涂層測厚儀選型注意事項
(二)影值的因素
1.影響因素的有關(guān)說(shuō)明
a) 基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應用中,低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準;亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準。
b) 基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導率對測量有影響,而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準。
c) 基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)附表1。
d) 邊緣效應
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進(jìn)行測量是不可靠的。
e) 曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著(zhù)曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
f) 試件的變形
測頭會(huì )使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測出可靠的數據。
g) 表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會(huì )引起系統誤差和偶然誤差,每次測量時(shí),在不同位置上應增加測量的次數,以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn);或用對基體金屬沒(méi)有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對儀器的零點(diǎn)。
g) 磁場(chǎng)
周?chē)鞣N電氣設備所產(chǎn)生的強磁場(chǎng),會(huì )嚴重地干擾磁性法測厚工作。
h) 附著(zhù)物質(zhì)
本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著(zhù)物質(zhì)敏感,因此,必須清除附著(zhù)物質(zhì),以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
i) 測頭壓力
測頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì )影響測量的讀數,因此,要保持壓力恒定。
j) 測頭的取向
測頭的放置方式對測量有影響。在測量中,應當使測頭與試樣表面保持垂直。
2.使用儀器時(shí)應當遵守的規定
a) 基體金屬特性
對于磁性方法,標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對于渦流方法,標準片基體金屬的電性質(zhì),應當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
b) 基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度,如果沒(méi)有,可采用3.3)中的某種方法進(jìn)行校準。
c) 邊緣效應
不應在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內轉角等處進(jìn)行測量。
d) 曲率
不應在試件的彎曲表面上測量。
e) 讀數次數
通常由于儀器的每次讀數并不完全相同,因此必須在每一測量面積內取幾個(gè)讀數。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內進(jìn)行多次測量,表面粗造時(shí)更應如此。
f) 表面清潔度
測量前,應清除表面上的任何附著(zhù)物質(zhì),如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
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